Paving the Way for Suitable Metasurfaces' Measurements under Oblique Incidence: Mono-/Bistatic and Near-/Far-Field Concerns

  1. Alvarez, H.F.
  2. Gomez, M.E.D.C.
  3. Las-Heras, F.
Revista:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 1557-9662,  0018-9456

Año de publicación: 2020

Volumen: 69

Número: 4

Páginas: 1737-1744

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TIM.2019.2913721 GOOGLE SCHOLAR
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