Reduced order models for uncertainty management and zero-defect control in seal manufacturing

  1. Viejo Monge, Ismael
  2. Alcala Serrano, Noelia
  3. Izquierdo, Salvador
  4. Conde Vallejo, Ignacio
  5. Zambrano, Valentina
  6. Gracia Grijota, Leticia A.
Colección de libros:
2019 IEEE 17TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON INDUSTRIAL INFORMATICS (INDIN)

ISSN: 1935-4576

ISBN: 978-1-7281-2927-3

Año de publicación: 2019

Páginas: 1627-1630

Congreso: 17th IEEE International Conference on Industrial Informatics (INDIN)

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/INDIN41052.2019.8972097 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible

Fuente de los datos: WoS