Jointly super-resolved and optically sectioned Bayesian reconstruction method for structured illumination microscopy
- Lai-Tim, Y.
- Mugnier, L.M.
- Orieux, F.
- Baena-Gallé, R.
- Paques, M.
- Meimon, S.
ISSN: 1094-4087
Ano de publicación: 2019
Volume: 27
Número: 23
Páxinas: 33251-33267
Tipo: Artigo